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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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膜厚测量仪FE-300
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膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低),穿透能力越差,所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在“离轴”状态工作(即薄膜与光束成一定角度)时,也需要较薄的薄膜窗口,便于X射线更好地穿透。 SHNTI提供
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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国产膜厚检测台阶仪
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安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪
的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在
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F60-t 薄膜厚度测量仪
。 可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如: 氧化硅氮化硅类金刚石DLC光刻胶聚合物聚亚酰胺多晶硅非晶硅硅 相关应用液晶显示器盒厚/聚酰亚胺/ITO生物医学聚对二甲苯
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